英國(guó)abi-3400級(jí)電路板故障檢測(cè)儀

北京金三航科技發(fā)展有限公司為您提供英國(guó)abi-3400級(jí)電路板故障檢測(cè)儀。特點(diǎn):

三維立體v-i-f曲線測(cè)試儀
變頻掃描v-i-f曲線測(cè)試儀
級(jí)v-i-f曲線測(cè)試儀



靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試。
檢測(cè)電路板上受損器件。
可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件。
可檢測(cè)出不相同的器件。
將損壞風(fēng)險(xiǎn)降至-。
具多通道測(cè)試（64通道）, 可減少測(cè)試時(shí)間。

abi-3400電路板故障檢測(cè)儀

可在靜態(tài)條件下分析器件及整板測(cè)試采用-的測(cè)試方法, 測(cè)量電氣信號(hào)曲線, 偵測(cè)錯(cuò)誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件- 增加問題檢測(cè)范圍, 同時(shí), 減少測(cè)試時(shí)間!

何謂v/i曲線測(cè)試?

對(duì)于模擬及數(shù)字電路板, v/i曲線測(cè)試是成熟、-的解決方案。
透過一個(gè)限流電阻器, 施加ac電壓到一個(gè)測(cè)試點(diǎn)時(shí), 測(cè)量因此產(chǎn)生之電流, 并將結(jié)果繪制成一個(gè)電壓/電流圖形, 即顯示該測(cè)試點(diǎn)的特性曲線。

分析v/i曲線,通常是與一參考點(diǎn)作比較,而檢測(cè)如下問題:

漏電流器件。
內(nèi)部受損器件。
錯(cuò)誤數(shù)值的器件。
不一致的器件。
短路與開路。

變頻掃描方式-增加問題查找范圍!

abi-3400模塊, 通過改變v/i信號(hào)的ac電壓的頻率, 而增加問題檢測(cè)范圍, 其產(chǎn)生的曲線, 繪制在一個(gè)3d窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個(gè)頻率范圍上的v/i曲線變化, 進(jìn)而找到標(biāo)準(zhǔn)v/i分析方法看不見的問題。

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     本公司主營(yíng)： 集成電路測(cè)試儀 - 電路板故障檢測(cè)儀 - 集成電路篩選測(cè)試儀 - 元器件篩選測(cè)試儀 - 電路板維修測(cè)試儀
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