涂層測(cè)厚儀-測(cè)厚儀-一六儀器1

江蘇一六儀器   x射線熒光測(cè)厚儀    十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì)      集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

-勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，涂層測(cè)厚儀，凹槽-范圍0-90mm。

   微-射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

測(cè)厚儀

    測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。

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x射線熒光是由原級(jí)x射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)x射線，光譜膜厚儀，入射的x射線具有相對(duì)較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。x射線熒光光譜的波長(zhǎng)在0.01-10納米之間，能量在124kev-0.124kev之間。用于元素分析中的x射線熒光光譜波長(zhǎng)的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124kev。

   當(dāng)x射線激發(fā)出試樣特征x射線時(shí)，測(cè)厚儀，其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個(gè)值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征x射線。