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運(yùn)行溫度過高造成cbb電容器損壞的原因
戶外式cbb電容器日光直接照射:cbb電容器露天裝設(shè)于變電站或配電線路上時(shí),由于日光直接照射下,由于超溫運(yùn)行原因,年損壞率-,有的可達(dá)百分之十左右。尤以裝于戶外鐵質(zhì)配電箱中,散熱-,夏季損壞率-高。另外在酷熱天氣突然下暴雨時(shí),也會(huì)集中造成損壞;
環(huán)境溫度過高:目前cbb電容器周圍空氣溫度系按一25-40攝氏度設(shè)計(jì)。環(huán)境溫度不超過40攝氏度的要求,在我國許多地區(qū)難以滿足。因此,新型的低壓無功補(bǔ)償裝置,其周圍空氣溫度系按一30-55攝氏度設(shè)計(jì);
溥膜電容廠家講述電容為什么會(huì)出現(xiàn)扭曲失效?
對于電容為什么會(huì)出現(xiàn)扭曲失效情況?溥膜電容廠家經(jīng)過實(shí)驗(yàn)得出的結(jié)論是:此種-的可能性很多,滌綸電容銷售,按大類及表現(xiàn)可以分為兩種:
smt階段導(dǎo)致的失效
當(dāng)進(jìn)行零件的取放尤其是smt階段零件取放時(shí),取放的定中爪因?yàn)槟p、對位不準(zhǔn)確,cl11電容報(bào)價(jià),傾斜等造成的。由定中爪集中起來的壓力,會(huì)造成很大的壓力或切斷率,繼而形成點(diǎn)。
這些現(xiàn)象一般為可見的表面裂縫,或2至3個(gè)電極間的內(nèi)部;表面一般會(huì)沿著強(qiáng)的壓力線及陶瓷位移的方向。
真空檢拾頭導(dǎo)致的損壞或﹐一般會(huì)在芯片的表面形成一個(gè)圓形或半月形的壓痕面積﹐并帶有不圓滑的邊緣。此外﹐這個(gè)半月形或圓形的裂縫直經(jīng)也和吸頭相吻合。
另一個(gè)由吸頭所造成的損環(huán)﹐因拉力而造成的﹐裂縫會(huì)由組件中央的一邊伸展到另一邊﹐這些裂縫可能會(huì)蔓延至組件的另一面﹐并且其粗糙的裂痕可能會(huì)令電容器的底部破損。
薄膜電容廠家說說電容器很快就出問題的原因
操作過電壓引起電容器的損壞:
切斷并聯(lián)電容器組時(shí),可能引起電感一電容回路的振蕩過程。從而產(chǎn)生操作過電壓,切斷過程中,如果斷路器發(fā)生電弧重燃,紹興電容,將引起-的電磁振蕩,cl11電容銷售,出現(xiàn)更高的過電壓值.這一過電壓的幅值,與被切電容和母線側(cè)電容的大小有關(guān),也與電弧重燃時(shí)觸頭間的電位差有關(guān);
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