國產(chǎn)掃描電鏡

寧波培正電子科技有限公司為您提供國產(chǎn)掃描電鏡。國儀-鎢燈絲掃描電子顯微鏡是一款使用鎢燈絲的-掃描電子顯微鏡。觀察亞微米級的微觀結(jié)構(gòu)，放大倍數(shù)可達300000倍。此型產(chǎn)品具有快速更換燈絲的優(yōu)點。其分辨率可達3 nm，在自動五軸樣品臺的配合下，非常適用于生產(chǎn)品質(zhì)控制及樣品篩選，適合傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡無法滿足需求的用戶。
　　鎢燈絲掃描電子顯微鏡,國產(chǎn)掃描電鏡
　　sem3100
　　sem3100具有-的成像和豐富的擴展性，將鎢燈絲掃描電子顯微鏡的可用性、易用性發(fā)揮到-。分辨率可達3 nm，-樣品倉，可容納-大直徑為370mm的樣品，以及諸多細節(jié)功能設(shè)計和特色功能，助您在顯微成像的中盡情探索。
　　-高指標
　　sem3100是一款-的掃描電子顯微鏡，擁有的分辨率和-的成像。放大倍率連續(xù)可調(diào)，在不同的視場范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的-樣品倉和低電壓模式，-地擴展了sem3100的應(yīng)用范圍。
　　豐富的擴展性
　　掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。sem3100擁有-的樣品倉，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測器（etd）、背散射電子探測器（bsed）、能譜儀（eds）外，也預(yù)留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（ebsd）、波譜儀（wds）、陰極熒光（cl）等探測器都可以在sem3100上進行集成。
　　背散射探測器
　　二次電子成像和背散射成像對比。背散射像下，樣品的荷電效應(yīng)明顯減弱，并且具有-的成分襯度，適合進行成分觀察。
　　掃描電鏡
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