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涂層膜厚儀———廣州景頤光電科技有限公司是一家專門做膜厚儀的廠家

反射式膜厚測試儀

反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ito等鍍膜厚度，pet柔性涂布的膠厚等厚度，led鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。sr可用于測量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。

此外，還可用于測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以內(nèi)。進行測量簡單-，實際測量采樣時間低于1秒。

同時，客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料，光學涂層膜厚儀，菜單進行管理并回溯檢查測量結(jié)果。目標應用：半導體鍍膜，涂層膜厚儀，光刻膠玻璃減反膜測量藍寶石鍍膜，光刻膠ito 玻璃太陽能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚，顏色測量卷對卷柔性涂布光學膜其他需要測量膜厚的場合

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膜厚測量儀測量的基本原理

在膜厚測量儀中，安徽涂層膜厚儀，比較流行的測量原理就是電渦流測量原理，我們一起來對電渦流測量原理進行比較詳盡的學習，高頻的交流信號一般會在側(cè)頭線圈中產(chǎn)生一定的電磁場，當測試的探頭靠近導體的時候，就會在它的附加產(chǎn)生渦流。

如果測試探頭離導體的基體越近，它的渦流就會越大，反射阻抗肯定也會。事實上，這是一個反饋作用的過程，這個過程中表征了測試探頭與導電基體之間距離的大小，換句-，這就是導體導電基體上非導電覆層厚度的大小。

采用電渦流測試的原理，原則上需要對導體上的非導電體覆蓋層均可以進行測量，涂層膜厚儀價格，-告訴我們，覆層材料是有一定的導電性的，通過校準也是可以同時進行測量的，不過在這其中，有一個比較明顯的要求就是兩個的導電率是相差3到5倍左右。

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