景頤光電-孝感光學(xué)膜厚檢測(cè)儀-光學(xué)膜厚檢測(cè)儀價(jià)位

光學(xué)膜厚檢測(cè)儀—廣州景頤光電科技有限公司是一家專門做膜厚儀的廠家

測(cè)厚儀的檢測(cè)方法及測(cè)量注意事項(xiàng)

測(cè)厚儀按照測(cè)量方式可分為接觸式和非接觸式。接觸式測(cè)厚儀通過儀器與樣品表面接觸測(cè)量，光學(xué)膜厚檢測(cè)儀，從而得知測(cè)量結(jié)果。而有些樣品的表面容易破壞不宜測(cè)量，則衍生出各種非接觸式測(cè)量方法，測(cè)厚儀的檢測(cè)方法及測(cè)量注意事項(xiàng)。

涂層測(cè)厚儀

采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，孝感光學(xué)膜厚檢測(cè)儀，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以*地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

測(cè)厚儀測(cè)量注意事項(xiàng)如下：

1、時(shí)間停止試驗(yàn)應(yīng)注意金屬磁性和名義粗糙度應(yīng)與試件組的規(guī)模。

2、頭部的側(cè)面和垂直于名稱樣品的測(cè)量。

3、測(cè)量中應(yīng)注意基體金屬的臨界厚度，如果厚度的測(cè)量不受基體金屬厚度的影響。

4、測(cè)量應(yīng)注意試樣的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此，在測(cè)量的測(cè)量彎曲的名稱可以不依賴。

5、小心不測(cè)內(nèi)眼角靠近試樣的邊緣檢測(cè)，光學(xué)膜厚檢測(cè)儀價(jià)位，因?yàn)樵嚇有螤罡淖儌�(gè)人的厚度是名非常敏感。

歡迎咨詢景頤光電了解更多光學(xué)膜厚檢測(cè)儀

光學(xué)膜厚檢測(cè)儀—廣州景頤光電科技有限公司是一家專門做膜厚儀的廠家

光學(xué)膜厚儀的主要特點(diǎn)

基片折射率和消光系數(shù)測(cè)量；

薄膜厚度測(cè)量，平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差分析；

薄膜折射率和消光系數(shù)測(cè)量；

適用于不用材質(zhì)和厚度的薄膜、涂層和基片；

測(cè)試數(shù)據(jù)輸出和加載；

直接patterned或特征機(jī)構(gòu)的試驗(yàn)測(cè)試；

可用于實(shí)時(shí)在線薄膜厚度、折射率監(jiān)測(cè)；

波長(zhǎng)范圍可選；

系統(tǒng)配備-的光學(xué)常數(shù)庫和材料數(shù)據(jù)庫，便于測(cè)試和數(shù)據(jù)分析。

歡迎咨詢景頤光電了解更多光學(xué)膜厚檢測(cè)儀