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江蘇一六儀器 x射線熒光鍍層測(cè)厚儀
-勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽-范圍0-90mm。
微-射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
jie shou 器:即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
efp-算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒efp算法軟件。
統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、max值、min值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、cp、數(shù)據(jù)編號(hào)、cpk、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、x-bar/r圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能
-系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能z軸保護(hù)傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、--任選軟件統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測(cè)材料和合金元素分析檢測(cè)。
江蘇一六儀器 x熒光光譜測(cè)厚儀 特點(diǎn)
快速:1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便:x熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上-的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器,能量分辨率-于135ev,測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補(bǔ)充液氮,操作使用方便,并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品-。
無損:測(cè)試前后,樣品無任何形式的變化。
直觀:實(shí)時(shí)譜圖,可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣:x熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從na到u。
-性高:由于測(cè)試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性-。所以,熒光測(cè)厚儀,其測(cè)量的-性更高。
滿足不同需求:測(cè)試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件,電鍍膜厚儀,操作方便、功能-,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種-的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
-:相比化學(xué)分析類儀器,鍍層膜厚儀,x熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的,紹興測(cè)厚儀,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡(jiǎn)易:對(duì)人員技術(shù)要求較低,操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。
江蘇一六儀器 x射線熒光光譜測(cè)厚儀
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,-測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)-的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果-
-的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
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