鍍層膜厚儀-測厚儀-江蘇一六儀器

江蘇一六儀器 xtu系列 xtu-bl x熒光光譜儀

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5v

   功率 ：330w

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對濕度：<70%

edx是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征x射線波長和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的， 根據(jù)不同元素特征x射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強(qiáng)度可以測定試樣中元素的含量。通常edx結(jié)合電子顯微鏡使用，可以對樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

常用的edx探測器是硅滲鋰探測器。當(dāng)特征x射線光子進(jìn)入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產(chǎn)生若干電子-空穴對，其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經(jīng)過一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，膜厚測試儀，并計(jì)數(shù)能譜中每個能帶的脈沖數(shù)。

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   江蘇一六儀器有限公司  鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  x射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。x射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，測厚儀，被測元素的特征x射線熒光強(qiáng)度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關(guān)，而且與厚度直接相關(guān)。能量色散x射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進(jìn)行-的化學(xué)處理、快速，鍍層膜厚儀，方便，測量成本低等明顯優(yōu)勢，-適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應(yīng)用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實(shí)現(xiàn)多鍍層同時分析等特點(diǎn)。