電鍍測厚儀-測厚儀-一六儀器

江蘇一六儀器   x熒光光譜測厚儀 特點

快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

方便：x熒光光譜儀部分機型采用進口國際上-的電制冷半導體探測器，能量分辨率-于135ev，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用方便，并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品-。

無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。

測試范圍廣：x熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析，抽真空可以測試從na到u。

-性高：由于測試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性-。所以，電鍍測厚儀，其測量的-性更高。

滿足不同需求：測試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能-，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設定儀器參數(shù)，并就有多種-的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

-：相比化學分析類儀器，x熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，鍍層分析儀，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便，并且維護簡單方便。

江蘇一六儀器 xtu系列 xtu-bl x熒光光譜儀

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5v

   功率 ：330w

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對濕度：<70%

edx是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征x射線波長和強度實現(xiàn)的， 根據(jù)不同元素特征x射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常edx結合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區(qū)成分分析。

常用的edx探測器是硅滲鋰探測器。當特征x射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產(chǎn)生若干電子-空穴對，其數(shù)量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對，經(jīng)過一系列轉換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計數(shù)能譜中每個能帶的脈沖數(shù)。

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