嘉興測厚儀-一六儀器1-光譜分析儀

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(ci)- -(u)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、外部結(jié)構(gòu)原理圖

x熒光做鍍層分析時，根據(jù)射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為：上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。

（二）、各種外部結(jié)構(gòu)的特點

1、上照射方式

   用于照射(激發(fā))的x射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的z軸為可移動方式，用于確定射線照射光斑的焦點，-測量的準(zhǔn)確性。

、z軸的移動方式

   根據(jù)z軸的移動方式，光譜膜厚儀，分為自動和手動兩類；

自動型的設(shè)備完全由程序與自動控制裝置實現(xiàn)，光譜分析儀，其光斑對焦的重現(xiàn)性與準(zhǔn)確度都-，而且使用非常簡便（一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式），一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上-一下即可定位。此類設(shè)備對于測試形狀各異的樣品非常方便，熒光測厚儀，也是目前主流的分析設(shè)備類型。

、x、y軸水平移動方式

水平移動方式一般分為：無x、y軸移動裝置；手動x、y軸移動裝置；電動x、y軸移動裝置；全程控自動x、y軸移動裝置。

這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實際需要而設(shè)計的，例如：使用無x、y軸移動裝置的也很多，結(jié)構(gòu)簡單，樣品水平移動完全靠手動移動，這種設(shè)備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對象。  

江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的-企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們-研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散x熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、-的解譜方法和efp算法結(jié)合-定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、led和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

一． 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀

長久磁鐵（測頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，嘉興測厚儀，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點是操作簡便、堅固-、不用電源，測量前無須校準(zhǔn)，價格也較低，很適合車間做現(xiàn)場控制。