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江蘇一六儀器 x射線熒光鍍層測(cè)厚儀
儀器簡(jiǎn)介
xtu系列測(cè)厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。
搭配微-射線管和-的光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測(cè)試極微小和異形樣品。
檢測(cè)78種元素鍍層·0.005um檢出限·測(cè)量面積可達(dá)0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動(dòng),移動(dòng)精度0.005mm,速度10-30mm(x-y)/圈,再小再多的樣品測(cè)試都沒有難度,讓操作人員輕松-。
應(yīng)用領(lǐng)域線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)
鍍純金、k金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
-鐵硼磁鐵上的ni/cu/ni/fendb
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的cr/ni/cu/cuzn(abs)
電鍍液的金屬陽離子檢測(cè)
江蘇一六儀器有限公司是一家-于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的-企業(yè)。
-的技術(shù),-團(tuán)隊(duì),嚴(yán)格的企業(yè)管理是公司得以不斷發(fā)展壯大、產(chǎn)品能夠贏得客戶-的-所在。
一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題歡迎咨詢聯(lián)系!
二. 磁感應(yīng)測(cè)量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,熒光測(cè)厚儀,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)),F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,鍍層分析儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- -(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 x射線熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
集成電路是-首要突破的行業(yè),現(xiàn)代制造業(yè)的發(fā)展,集成電路是基礎(chǔ)。如果-電路板生產(chǎn)的,電鍍檢測(cè)重中之重!x射線熒光膜厚測(cè)厚儀為集成電路的發(fā)展,pcb線路板加工業(yè)的保駕-。價(jià)格一直是客戶在購買時(shí)關(guān)心的問題,徐州測(cè)厚儀,好和售后服務(wù)的產(chǎn)品在價(jià)格上面往往比較高,所以客戶在選擇產(chǎn)品時(shí)選擇-的就需要一定的了解,首先是品牌,其次是客戶調(diào)查,售后服務(wù)等。x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試,鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚,pcb線路板的鍍銀厚度分析。 的詳細(xì)信息x射線熒光膜厚測(cè)厚儀可用于電力行業(yè)高壓開關(guān)柜所用的鍍銀件厚度測(cè)試,膜厚測(cè)試儀,鍍錫測(cè)試。也可以用于首飾類產(chǎn)品的鍍銀層測(cè)厚,pcb線路板的鍍銀厚度分析。
x射線熒光膜厚測(cè)厚儀已經(jīng)成為電力行業(yè),pcb行業(yè),首飾行業(yè)的鍍層分析的常規(guī)手段,比傳統(tǒng)的電解法測(cè)厚儀具有更快的測(cè)試速度和分析精度,也比切片法具有更快的分析效率。
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