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熒光顯微攝影由于熒光圖像一般均較明場觀察暗得多,所以進(jìn)行熒光顯微攝影需要較長的-時(shí)間,在-時(shí)應(yīng)注意避免熒光顯微鏡震動。為了縮短-時(shí)間,可選擇倍率較低的攝影目鏡或感光度較高的攝影膠片如asa200以上或din24以上。熒光顯微鏡攝影技術(shù)對于記錄熒光圖像十分-,由于熒光很易褪色減弱,投射偏光顯微鏡,要即時(shí)攝影記錄結(jié)果。方法與普通顯微攝影技術(shù)基本相同。因紫外光對熒光猝滅作用大,如fitc的標(biāo)記物,在紫外光下照射30s,熒光亮度降低50%。所以,-速度太慢,就不能將熒光圖像拍攝下來。一般研究型熒光顯微鏡都有半自動或全自動顯微攝影系統(tǒng)裝置。
倒置金相顯微鏡--金相試樣制備步驟:1.縱向取樣縱向取樣是指沿著鋼材的鍛軋方向進(jìn)行取樣。主要檢驗(yàn)內(nèi)容為:非金屬夾雜物的變形程度、晶;兂潭取⑺苄宰冃纬潭、變形后的各種組織形貌、熱處理的情況等。2.橫向取樣橫向取樣是只垂直于鋼材鍛扎方向取樣。主要檢驗(yàn)內(nèi)容為:金屬材料從表層到中心的組織、顯微組織狀態(tài)、晶粒度級別、碳化物網(wǎng)、表層缺陷-、氧化層-、脫碳層-、腐蝕層-、表面化學(xué)熱處理及鍍層厚度等。3.缺陷或失效分析取樣截取缺陷分析的試樣,應(yīng)包括零件的缺陷部分在內(nèi)。取樣時(shí)應(yīng)注意不能使缺陷在磨制時(shí)被損傷甚至消失。金相試樣的大小以便于握持、易于磨制為準(zhǔn)。通常顯微試樣為直徑15mm、高15~20mm的圓柱體或邊長為15~25mm的立方體。試樣可用手鋸、砂輪切割機(jī)、剪切、鋸、刨、車、銑等截取。硬而脆的金屬可以用錘擊法取樣。不論用哪種方法切割,均應(yīng)注意不能使試樣由于變形或過熱導(dǎo)致組織發(fā)生變化。對于使用高溫切割的試樣,必須除去熱影響部分。
金相顯微鏡各部分功能和其使用簡介:系統(tǒng)在底座內(nèi)有一個(gè)低壓的燈泡作為光源,由變壓器供電,靠調(diào)節(jié)次級電壓來改變燈光的亮度。聚光燈、孔徑光欄以及反光鏡等裝置均安裝在圓形底座上,反射偏光顯微鏡,視場光欄以及另一個(gè)聚光鏡則安裝在支架上,它們構(gòu)成了照明系統(tǒng),使試樣表面獲得充分、均勻的照明。調(diào)焦裝置:在顯微鏡的兩側(cè)有粗動和微動調(diào)焦手輪,兩者在同一部位。隨粗調(diào)手輪的轉(zhuǎn)動,支撐載物臺的彎臂作上下運(yùn)動。在粗調(diào)手輪的一側(cè)有制動裝置,正立偏光顯微鏡,用以固定調(diào)焦正確后載物臺的位置。微調(diào)手輪使顯微鏡本題沿著劃軌緩慢移動。在右側(cè)手輪上刻有分度格,每一格表示物鏡座上下微動0.002毫米。與刻度盤同側(cè)的齒輪箱上刻有兩條白線,用以指示微動升降范圍,廊坊偏光顯微鏡,當(dāng)旋到-位置時(shí),微動手輪就會自動被-,此時(shí),不能再繼續(xù)旋轉(zhuǎn)而應(yīng)該倒轉(zhuǎn)來使用。
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