安悅電子科技有限公司-x-ray檢測半導(dǎo)體-中山x-ray

1、檢測結(jié)果有底片：

由于底片上記錄的信息十分豐富，x-ray檢測ic微型凸塊，且可以長期保存，從而使射線照相法成為各種無損檢測方法記錄真實(shí)、直觀、整體性的檢測方法。

2、缺陷定性定量準(zhǔn)確：

可以獲得缺陷的投影圖像，缺陷定性定量準(zhǔn)確，中山x-ray，各種無損檢測方法中，射線照相相對(duì)缺陷定性定量是標(biāo)準(zhǔn)的。在定量方面，對(duì)體積型缺陷（氣孔、夾渣類）的長度、寬尺寸的確定也-，其誤差大致在零點(diǎn)幾毫米。但對(duì)面積型缺陷（如裂紋、未熔合類），如缺陷端部尺寸（高度和張口寬度）很小，則底片上影像延伸可能辨別不清，此時(shí)定量數(shù)據(jù)會(huì)偏小。