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-質譜檢漏儀的響應時間會影響檢漏工作的速度，正常運行的儀器響應時間不大于3s。筆者實測時，在漏點處噴射-氣5～10s后，-質譜檢漏儀就發(fā)生響應，對于如此龐大的真空系統(tǒng)，其反應是相當的靈敏。
檢漏時噴在漏孔處停留的時間應為儀器響應時間的3倍，該時間再加上-氣在真空系統(tǒng)中的傳遞時間，正壓-質譜真空檢漏儀品牌，即為兩次噴-的較小間隔時間，當然真空系統(tǒng)越龐大，該間隔時間也越長。筆者根據實測經驗，兩次噴-的較小間隔時間控制在30s左右，-質譜真空檢漏儀品牌，即如果次噴-后30s內-質譜檢漏儀還沒有反應，正壓-質譜真空檢漏儀品牌，則可進行第二次噴-。
清除時間在理論上與響應時間相同，但由于儀器零件對-的吸附和脫附作用的影響，清除時間一般要更長些。筆者-，在測試到數量級為10-9p a ?m3/s的微漏漏點時，清除時間約須1分鐘；在測試到數量級為10-8p a ? m3/s的中漏漏點時，清除時間約須2分鐘；在測試到數量級為10-7pa?m3/s的大漏漏點時，清除時間在3分鐘左右。
-質譜檢漏技術是真空檢漏領域里不可缺少的一種技術，由于檢漏效率快，簡便易操作，儀器反應靈敏，正壓-質譜真空檢漏儀品牌，精度高，不易受其他氣體的干擾，在電阻爐檢漏中得到了廣泛應用。-質譜檢漏儀是根據質譜學原理，用-氣作示漏氣體制成的氣密性檢測儀器。由離子源、分析器、收集器、冷陰極電離規(guī)組成的質譜室和抽氣系統(tǒng)及電氣部分等組成。
真空壓力法的優(yōu)點是檢測靈敏度高，能實現任何工作壓力的漏率檢測，反映被檢件的真實泄漏狀態(tài)。
真空壓力法的缺點是檢漏系統(tǒng)復雜，需要根據被檢產品的容積和形狀設計真空密封室。這里需要說明在檢漏過程要求-充氣管道接口無泄漏，或者采取特殊的結構設計將所有充氣管道連接接口放置在真空密封室外部。
真空壓力法的檢測標準有gb /t 15823-2009<-泄漏檢驗>，主要應用于結構簡單、壓力不是-高的密封產品，如電磁閥、高壓充氣管道、推進劑貯箱、天線、應答機、整星產品等。
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