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1. 復(fù)型測量法 一種間接的測量方法，通過將可塑性材料充滿在人工缺陷內(nèi)，經(jīng)過凝固成型后取出，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)，直觀、形象、逼 真地再現(xiàn)人工缺陷的立體形貌，取點、線、斷面采用相應(yīng)精度的量具對人工缺陷長度、寬度、-測量，獲 得人工缺陷的尺寸數(shù)據(jù)。
2. 顯微測量法 直接通過讀數(shù)顯微鏡對人工缺陷放大后，以光學(xué)成像或-方法-邊緣輪廓或表面，通過x、y、z軸在缺陷上移動的距離直接測量人工槽的長度、寬度、-及通孔的直徑。
1.渦流-當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流所產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
2.同位素-利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)公司，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。
探頭的放置方法對測量有很大影響，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)，在測量中應(yīng)使探頭與被測件外表堅持筆直。而且探頭的放置時刻不宜過長，避免形成基體本身磁場的攪擾。測量時不要拖動探頭，由于這么不僅對探頭會形成磨損，也不會得到的測量成果。別的，基體金屬被磁化、基體金屬厚度過小、工件曲率過小、測量基座外表有銹蝕、測量現(xiàn)場周圍有電磁場攪擾等要素都有也許致使測量成果的反常，假如離電磁場十分近時還有也許會死機(jī)。
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